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    低溫試驗-第(dì)三方檢測中心

    發布時間: 2024-04-11  點擊次數: 1360次

    低溫試驗用於考核產品在低溫環(huán)境條件下貯存和(hé)使用的適應性,常用於產品在開(kāi)發(fā)階段(duàn)的型式試驗、元器件的篩(shāi)選試驗。中(zhōng)科檢測開展(zhǎn)低溫試驗服(fú)務,具備CMA、CNAS資質認證。

    低溫試驗方法

    將試驗樣品放入溫(wēn)度為實驗室溫度的試驗箱中(zhōng),然後將溫度調節到符合相關規定的嚴酷等級溫度。

    當試驗樣品溫度達到穩定後,在該條(tiáo)件下(xià)暴露到規定(dìng)的持續時(shí)間(jiān),對於試驗時需要通電運行的試驗樣品(即使它們不屬於散熱試驗樣品(pǐn)),應在試驗樣品溫度達到溫度後通電,根據需要進行功能檢(jiǎn)測。

    這種情況下,可能還需要一段時間達到溫度穩定,然後試驗樣品在該低溫條件下暴露到相關規範規定的持續時間。

    低(dī)溫試驗標準

    GB/T 2423.1-2008,IEC 60068-2-1:2007 電工(gōng)電子產品環境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫

    GB/T 4857.2——2005,ISO 2233:2000 包裝 運輸包(bāo)裝件基本試驗(yàn) 第 2 部分:溫濕(shī)度調節處理

    GJB150.4A-2009 裝備實驗室環境(jìng)試驗方(fāng)法 第 4 部分:低溫試驗(yàn)

    QC/T 413-2002 汽車電氣設備基(jī)本技術(shù)條件

    GB/T 6587-2012 電子測量儀器通用規範

    低溫試驗服務優勢

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