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掃（sǎo）描電鏡測試SEM，x射線能譜測試EDS
周主任：
廣州17.c18起草视频檢測技術服務有（yǒu）限公司（sī）通過了中國國家認證認可監（jiān）督管理委員會和中國合（hé）格評定國家（jiā）認可委員會的二合一（cma、cnas）實驗室認證認可，是（shì）的第三方檢（jiǎn）測機構。為（wéi）您（nín）出具認證報告！日立S-3400N掃描電鏡、德國布魯克Xflash Detector 5010能譜儀（yí），固體樣品（pǐn）均可，樣品應經過真空幹燥處理，不含水分或其它易揮（huī）發成分。樣（yàng）品厚度（dù）不能高於10mm，樣品直徑（jìng）200mm。測試條件：加速電壓0.3~30kv，放大倍率5~300000倍，分辨率SE 3nm@30kv、10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可以（yǐ）測量（liàng）固體樣品、薄膜、微粒的表麵結構，不導電的需噴金後測定。
掃描電鏡快速檢測，SEM現場檢（jiǎn）測-國科控股資質檢測機構（gòu）
掃描電鏡測試SEM可提供表麵結構測試（shì），進行樣品微觀分析，掃描式顯微鏡可放大到30萬倍以上，可測試（shì）項目廣（guǎng）泛。
掃描電鏡快速檢測，SEM現（xiàn）場檢測-國科控股資質檢測（cè）機構
X射線能譜：入射電（diàn）子和樣品進行非（fēi）彈性碰撞可產（chǎn）生連續x光和特征x光，前者係入射（shè）電子減速所（suǒ）放出的連續光譜，形成背景決定zui少分析之量，後者係特定能階間之能量差，可藉以分析成（chéng）分元素。
元素分析：
可以測試的金屬元素有： 鋰（li）、鈹（pí）（be）、 鈉（na）、鎂（mg）、鋁（al）、 鉀（k）、鈣（ca）、鈦（tài）（ti）、釩（v）、鉻（cr）、錳（měng）（mn）、鐵（tiě）（fe）,鈷（co）、鎳（ni）、銅（cu）、鋅（zn）、镓（ga）、...
特別推出紅（hóng）外（FIR）、DSC(差視熱量（liàng）掃描（miáo）儀)、TGA（熱失重分析）、TGA-FIR聯用、DMA動態力學分析儀、塑料導熱係數（shù）、塑料配（pèi）方剖析未知物成（chéng）分分析、激光粒度儀、TEM（透射電鏡（jìng））、SEM（掃（sǎo）描電鏡）的測（cè）試。
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